原子力显微镜
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AFM
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  • 扫描范围在50nm×50nm到90μm×90μm之间(xy平面),Z方向可检测5 μm以内,垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃;
  • 薄膜
  • AFM
服务特色

表征技术:
1. 力学性质:力曲线,杨氏模量,黏附力,摩擦力等
2. 电磁学性质:表面电势(KPF),导电原子力,压电力响应,磁场力显微镜等
应用范围:
1. 生物学和生物技术,蛋白质、 DNA、病毒、细菌、组织等
2. 材料科学,表面形貌形态、压电性质、粘滞力分析、摩擦特性分析等
3. 磁材料,磁畴结构成像、观察因外部磁场引起的磁性的反转、不同温度下的磁结构变化等
4. 半导体和电学性质测量,硅片等材料的表面形貌、表面电势和电容测量、表面电荷分布图、掺杂浓度分析、失效分析(局域导电性和绝缘层漏电流)
5. 聚合物和有机薄膜,球状或柱状晶体、聚合物单晶材料、聚合物纳米颗粒、LB 膜、有机薄膜等
6. 纳米材料,纳米粉体、纳米复合材料、纳米多孔材料、
7. 纳米结构材料, 富勒烯、碳纳米管、纳米丝、纳米胶囊
8. 纳米电子学,量子点、纳米线、量子结构
9. 2维片层材料,石墨烯,MXENES等
制样要求:
样品尺寸要求在5 cm×5 cm以内

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