服务简介
透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”。
仪器型号：
FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜
设备性能：
加速电压：200kV
高分辨极靴 (S-TWIN)
点分辨率：0.24nm；线分辨率：0.14nm
STEM (HAADF)分辨率：0.19nm
电子束能量色散：<0.7eV
最大束流：>100nA；1nm束斑最大束流：>0.5nA
样品最大倾斜角：±40°
EELS (Gatan Enfina)能量分辨率：0.7eV
EDAX能谱仪 (EDS)：5B~92U；能量分辨率：~130eV (Mn Ka线)
应用范围: 
对各种材料的物质内部微结构进行观察，电子衍射分析及高分辨电子显微术研究，晶体结构及晶体性能进行研究，配合能谱仪可以对各种元素进行定性、及半定量的微区分析，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域。用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究，仪器的功能包括：电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射成像：衍衬像、高分辨像 (HREM) 微区成分：EDS能谱的点、线和面分析
制样要求：
1 块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度为200nm以下;
2 粉末和液体样品，要求样品能够均匀分散在支持膜上并且干燥;
3 离子减薄需要样品在30um以下，不要超过50um 冲成Ф3mm(客户自己磨制)如果无法自己磨制，请补差300，寄双份样品;磁性样品不可离子减薄制样。
4超薄切片需要提前预约设备，测样前请和客服联系；
5 生物样品寄样直接用戊2醛固定即可，我司提供制样、切片和测试。
6 因TEM-EDS是薄样品测试，不同于SEM-EDS，受仪器本身限制，满足以下要求的样品方可考虑测试TEM-mapping：
(1) 因TEM样品必须制备在覆盖碳膜的铜网上，故含C和Cu元素的样品不能测试mapping；
(2) 因Cu元素无法避免且含量很高，故要求所需测试的元素含量1般要大于5%方可尝试mapping；
(3) 因N元素是原子序数很小的元素，在TEM中很难检测到，1般N元素含量>10%才有可能检测到。
7毒性样品请特别说明，谢谢。