超高分辨透射电子显微镜
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超高分辨TEM 高校/研究院所
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TEM测试 制样
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  • 日本电子
  • 2100F
  • 金属材料/无机材料/高分子有机材料/薄膜;涂层样品等
  • 样品直径为3mm,厚度0.1-0.2mm,最大150万倍
  • TEM测试、制样
服务特色

广东省工业分析检测中心具有电解双喷/离子减薄/聚焦离子束-FIB等制样技术,可进行STEM,选区电子衍射,TEM,EDS-map分析等,全年工作日均可送样检测

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