扫描电子显微镜
100-220
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北京航天试验技术测试 高校/研究院所
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SEM+EDS( 喷金/喷碳+SE SEM+EDS( 喷金/喷碳+SE
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  • 仪器参数
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  • FEI
  • QUANTA FEG 450
  • 主要用于材料显微结构分析、材料表面元素分布、失效断口分析、腐蚀产物形貌观察、材料微观区域晶体结构分析、定点化学成分定量分析。
  • 固体无磁性材料
  • SEM+EDS(点扫)、喷金/喷碳+SEM+EDS(点扫)、SEM+EDS(map、line)、喷金/喷碳+SEM+EDS(map/line)
服务特色

仪器简介:

分辨率      30kv-3.0nm(SE)
            30kv-4.0nm(BSE)
放大倍数    6-300,000x
加速电压    0.2kV-30kV
电子枪      双阳极热发射电子枪
聚光镜      变焦聚光镜
物镜       固定式物镜光阑
样品室     左右内径284mm
X/Y         100mm
Z           60mm
旋转        360°
倾斜        -5°to +70°
具体价格可面议

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