场发射扫描电镜 (新用户首单免费测试)
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中科院上海微系统所 高校/研究院所
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SEM形貌观察 EDX成分分析
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  • 日立公司
  • S4800
  • 扫描电镜用于对试样进行形貌观察、成分分析和结构测定
  • 主要技术指标 1.放大倍数:LM:20--2000X;HM:100-800000X。 2.二次电子分辨率:1.0nm (15kV, WD=4mm);1.4nm 3.能谱仪附机: 分析元素范围:Be4~U92 能量分辨率(Mn-Ka):优于127eV
  • SEM形貌观察、EDX成分分析
服务特色

日立公司扫描电镜用于对试样进行形貌观察、成分分析和结构测定。
功能及应用领域 :
  可广泛应用于金属材料、无机非金属材料、冶金、汽车、生物、医学等研究开发领域。适用对各种样品进行形貌观察、成分分析和结构测定。
主要技术指标
1.放大倍数:LM:20--2000X;HM:100-X。
2.2次电子分辨率:1.0nm (15kV, WD=4mm);1.4nm
3.能谱仪附机:
分析元素范围:Be4~U92
能量分辨率(Mn-Ka):优于127eV

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