| 高分辨场发射透射电镜配置扫描附件和X射线能谱仪 (新用户首单免费测试) | |||
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TEM微观形貌分
HRTEM晶体结
EDX化学成分分
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高分辨场发射透射电镜（TecnaiG2TF20S-TWIN）
美国FEI公司
1 技术参数
点分辨率：≤0.24nm ；晶格分辨率：≤0.102nm
加速电压：200kV
配置的扫描透射附件分辨率：≤0.19 nm
配置的能谱仪附件：带扫描功能
分析元素范围：Be4~U92； 能量分辨率(Mn-Ka)：优于127eV
2 功能及应用领域
高分辨透射电镜可以从原子尺度上研究物质的微观、亚微观形貌、晶体结构，结合能谱仪可以分析化学成分，从而揭示物质变化的内在显微结构和宏观性能的关系。在凝聚态物理学、材料科学（金属合金材料、纳米材料、半导体、超导、陶瓷）、化学（催化剂材料）、地质学等学科有着非常广泛的应用。
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