| TEM 透射电子显微镜 形貌分析 晶格条纹像 | |||
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| 50-350元 | |||
| 5个工作日 | |||
| 赤子心Test | 高校/研究院所 | ||
| 正规发票 结果可靠 售后无忧 支持信用支付 | |||
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TEM+SAED
HRTEM+TE
MAPPING
EDS点扫
磁性样品
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配备超高分辨极靴，点分辨率0.19纳米。利用透射电镜明场、暗场、电子衍射和高分辨成像技术分析各种无机、有机及复合材料的精细结构，同时配有STEM和能谱附件，可以做点扫，线扫，mapping。
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