| XPS测试X射线光电子能谱仪 | |||
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非磁性XPS测试
磁性XPS测试
刻蚀
价带谱
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服务简介
X射线光电子能谱分析(XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析，包括价态。
服务详情
仪器型号：
X射线光电子能谱仪 赛默飞 EscaLab 250Xi
设备性能：
1 极限能量分辨率为0.43eV;
2 分析室真空度优于5×10-10 mbar;
3 能量分析范围为0-5000eV;
4 通过能范围为1-400eV；
5 固体样品的表面成分分析、化学态分析，取样深度1般约为1-10nm,其中金属材料为0.5-3nm，无机材料2-4nm，有机高聚物5-10nm。
应用范围:
为有机化合物结构分析提供信息，配合进行化合物定性定量分析，广泛应用于有机化合物、农药、及生物大分子结构与性能研究。主要应用于有机化合物的结构分析；化工产品分析；工业助剂分析；有机成份分析等。
制样要求：
1.粉末测试需要量1般不小于0.2 毫升或者10-20毫克，样品需干燥;
2.固体样品尺寸块状5*5mm，厚度尽量低于4mm，表面须平整，样品需干燥;
3.液体样须滴在铝箔或者硅片等载体上烘干形成液膜，1般重复3-5次烘干滴液差不多即可测不到基底;
4.材料必须是无放射性、无毒性、无挥发性物质(如单质Na, K, S, P, Zn, Se, As, I, Te, Hg等);
5.磁性样品(可以测试)请送样时告知;
6.UPS样品需要导电，部分粉末样可压片测试，但效果不太理想，且为薄膜样（1cm*1cm*0.5mm左右）。
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