X射线光电子能谱仪
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XPS数据分析, 固体样品 全谱图 粉末样品 全谱图 深度剖析
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  • 各种固体表面的元素成分、化学价态、分子结构分析和深度剖析等。
  • •检测除了H 、He以外的所有元素 •检测极限:0.1%
  • XPS数据分析,谱图处理、固体样品 全谱图+窄谱、粉末样品 全谱图+窄谱、深度剖析
服务特色

服务项目:各种固体表面的元素成分、化学价态、分子结构分析和深度剖析等。

测试深度:金属0.5~3nm,氧化物2~4nm,有机物4~10nm;
理论测试面积:Φ200μm,Φ400μm,Φ800μm,800μm*2000μm,实际面积在理论面积的3倍以上;
定性检测限0.1at%;定量误差±10at%。
异物尺寸要求大于Φ2000μm。

测试范围:
•检测除了H 、He以外的所有元素
•检测极限:0.1%

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