冷场发射扫描电子显微镜+能谱 SU8010
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形貌观测 能谱打点或线或面 能谱Mappin
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  • 仪器参数
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  • 日立
  • SU8010
  • 本设备主要用于微观形貌观测及材料表面成分分析,2次电子分辨率:1.0nm(加速电压15kV、WD=4mm),1.3nm(加速电压1kV、WD=1.5mm)
  • 样品不能含有水分,磁性样品慎拍
  • 形貌观测、能谱打点或线或面、能谱Mapping
服务特色

进口喷金仪免费喷金;日立冷场高分辨率拍照;元素分布Mapping

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