X射线衍射仪
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  • 株式会社理学
  • UItima-IV-185
  • 材料晶型测定,晶面间距确定,晶面确定以及半定量分析
  • 无特殊条件
  • 广角、小角
服务特色

材料晶型测定,晶面间距确定,晶面确定以及半定量分析。 测试精度 对Si(220)=47.2640±0.04°
                   Si(511)=94.9278±0.04°
                   Si(620)=127.5376±0.04°

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