X射线衍射仪 | |||
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50-100元 | |||
2个工作日 | |||
国科理化检测中心 | 高校/研究院所 | ||
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材料晶型测定,晶面间距确定,晶面确定以及半定量分析。 测试精度 对Si(220)=47.2640±0.04°
Si(511)=94.9278±0.04°
Si(620)=127.5376±0.04°
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