扫描电子显微镜(SEM测试)
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  • FEI Helios Nanolab 600i
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  • 材料,粉体,矿物粒径大小,表面断面形貌分析, 填料分散状态复合材料结构, 材料晶型分析晶粒大 小,材料物相分析。元素定性分析。
  • 粉状样品提供5毫克
  • SEM、EDS点能谱、线扫、mapping、磁性
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