原子力显微镜
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薄膜
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  • 布鲁克
  • Multimode 8
  • 广泛地应用于表面分析的各个领域,通过对表面形貌的分析、归纳、总结,以获得更深层次的信息。它可以用于研究金属、半导体和非金属类材料的表面形貌、表面重构、摩擦力,获得相界、分形结构和横向力等信息的空间3维图像。
  • 尺寸不超过10×10×2mm,表面起伏不超过1μm。
  • 薄膜
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不测试粉末样品,知悉。

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